加利福尼亚州卡尔斯巴德2012年2月20日消息，美国Nordson YESTECH公司将在2012年度APEX展会上展出其新型高速FX SL先进AOI检测系统。该检测系统应用于组装印刷电路板。据悉，2012年的APEX展会将在加利福尼亚州圣地亚哥会议中心于2月28日～3月1日举行，Nordson YESTECH公司将在展位#3209对其AOI及AXI检测系统的整条生产线进行现场演示。

　　据了解，与上一代检测系统相比，Nordson YESTECH公司推出的FX SL AOI系统可提供加速的吞吐量，速度提高到两倍以上，同时不影响分辨率，并可保证较低的缺陷覆盖率和极低的故障率。其中，这一显著的速度增长在所有目前可用的放大倍率为8、12及25微米/像素的系统中均可实现。

　　此外，该FX SL系统有效缩短了宝贵的检查时间，并可实现对焊料、组件存在及位置、极性以及通孔零件的高速自动检测。该系统的编程快速、容易，操作者通常可以花费不到1小时便可以创建一个完整的检查方案，包括焊接检查。

　　同时，FX SL AOI检测系统也适用于高容量及高混合度的制造环境，并可提供快速的吞吐量和较高分辨率，还可以对01005元件进行检测。该系统采用标准组件库，以简化培训，并确保整个生产线的程序可移植性。

　　FX SL AOI检测系统利用了一套灵活并全面的检查工具，包括直角摄像机、3D高度传感器、先进融合性照明技术、全彩色数字图像处理技术以及基于图像和规则的演算法等。它是Nordson YESTECH公司技术团队20多年行业经验的结晶。(责任编辑 庄青)